產品介紹

     貝拓科學專業(yè)研發(fā)設計生產的BRAGG臺式X射線衍射儀采用X射線衍射技術，能夠快速、精確地進行晶體結構分析、相態(tài)識別和定量分析。BRAGG具有高分辨率和靈敏度，可以應對多種樣品類型，包括粉末、液體、固體等。它還配備了用戶友好的軟件界面，方便用戶進行數(shù)據(jù)處理和分析。這款儀器適用于多個領域，包括材料科學、地球科學、化學等，為研究人員和工程師提供了強大的分析工具。

    儀器特點：

    ●光子計數(shù)X射線探測器

    面陣型光子計數(shù)半導體探測器

    高靈敏，可實現(xiàn)單光子計數(shù)

    動態(tài)范圍大

    雙閾值

    抗強輻射長時照射，長壽命

    ●固定測角儀系統(tǒng)

    同時獲取-3°~150°2θ角度范圍圖像

    2D成像，同時收集γ角度信息

    ●大角度弧形探測器

    同時獲取-3°~150°2θ角度范圍圖像

    2D成像，同時收集γ角度信息

    探測器至樣品距離:150mm

    多片探測器全角度無縫覆蓋

    ●支持多種數(shù)據(jù)采集模式

    固定照相模式獲取2D衍射幀

    快掃模式獲取1D衍射譜

    功能應用：

    ●物相鑒定

    ●定量分析

    ●結晶度

    ●晶胞參數(shù)

    ●晶粒尺寸

    ●晶體結構

    ●Rietveld精修

    ●相變

    技術參數(shù)：